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| 掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)和試樣制備 |
| 本文簡(jiǎn)述了掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)和試樣制備。[詳細] |
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| 掃描電子顯微鏡的儀器組成 |
| 本文介紹了掃描電子顯微鏡的儀器組成。[詳細] |
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| 掃描電子顯微鏡的工作原理 |
| 掃描電鏡是顯微結構分析的主要儀器，已廣泛用于材料、冶金、礦物、生物學(xué)等領(lǐng)域，成為一種使用效率極高的大型分析儀器，本文簡(jiǎn)要介紹了其工作原理。[詳細] |
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| 透射電子顯微鏡概述 |
| 透射電子顯微鏡（transmission electron microscope,TEM）是使電子束穿透所觀(guān)察的樣品，并將透射電子用電磁透鏡會(huì )聚成像，以觀(guān)察樣品內部結構信息的儀器，簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡。透射電鏡是現代顯微技術(shù)中分辨率最高，...[詳細] |
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| X射線(xiàn)在粉體技術(shù)領(lǐng)域的應用（3）——物相分析 |
| 物相分析是十分有效并且應用廣泛的分析方法，在材料、冶金、化工、地質(zhì)等領(lǐng)域被廣泛應用，物相分析的任務(wù)是鑒別待測樣由哪些物相組成及各物相的含量。X射線(xiàn)衍射法是一種比較有效的物相分析手段，本文介紹了利用X...[詳細] |
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| X射線(xiàn)在粉體技術(shù)領(lǐng)域的應用（2）——晶體結構的測定 |
| X射線(xiàn)在粉體技術(shù)領(lǐng)域的重要應用之一就是測定晶體結構，即測定晶胞參數（a，b，c，a，b，γ）、晶胞中各原子的位置坐標（xi，yi，zi）、其溫度因子及位置占有率等參數。晶體結構主要是用單晶體衍射測定的，近年來(lái)...[詳細] |
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| X射線(xiàn)在粉體領(lǐng)域的應用（1） |
| 一、X射線(xiàn)概述 X射線(xiàn)于1895年由倫琴(W.K.Rontgen)所發(fā)現，由于倫琴發(fā)現這種射線(xiàn)時(shí)無(wú)法確定其性質(zhì)，故稱(chēng)為X射線(xiàn)。后來(lái)為紀念它的發(fā)明者也稱(chēng)為倫琴射線(xiàn)。 它具有如下特性：①肉眼不能觀(guān)察到，但可使照相底片感...[詳細] |
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| “透視眼”X射線(xiàn) |
| X射線(xiàn)于1895年由倫琴(W.K.Rontgen)所發(fā)現，由于倫琴發(fā)現這種射線(xiàn)時(shí)無(wú)法確定其性質(zhì)，故稱(chēng)為X射線(xiàn)。后來(lái)為紀念它的發(fā)明者也稱(chēng)為倫琴射線(xiàn)。它具有如下特性：①肉眼不能觀(guān)察到，但可使照相底片感光、熒光板發(fā)光和使...[詳細] |
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