測試顆粒粒徑的技術(shù)和方法主要有篩分法、沉降法、顯微鏡法、光散射法、電阻法(庫爾特計數法)、比表面積法、超聲波衰減法等。在眾多的測試方法中，除顯微鏡法屬于直接測量顆粒的絕對幾何尺寸外, 其余方法測得的粒徑都不是絕對的幾何概念的尺寸, 而是所謂的“等效粒徑”。
本文通過(guò)對多種粒度測試方法, 如顯微鏡法、沉降法、電阻法、激光衍射法和比表面積法進(jìn)行對比試驗, 研究所得結果的異同并分析其原因, 為工程應用尋找出利用現有粒度測試技術(shù)更真實(shí)更準確地反映顆粒粒度及其分布的方法。
1 粒度測試方法
1.1 顯微鏡圖像法
顯微鏡圖像法能同時(shí)觀(guān)察顆粒的形貌及直觀(guān)地對顆粒的幾何尺寸進(jìn)行測量, 經(jīng)常被用來(lái)作為對其他測量方法的一種校驗或標定.該類(lèi)儀器由顯微鏡、CCD 攝像頭(或數碼相機)、圖形采集卡、計算機(圖像分析儀)等部分組成.它的工作原理是由CCD 攝像頭將顯微鏡的放大圖形傳輸到計算機中, 再通過(guò)專(zhuān)用分析軟件對圖像進(jìn)行處理和計算, 得出顆粒的粒徑和粒徑分布.該方法減少了人為觀(guān)測誤差, 提高了測試速度, 但它的制樣要求高、操作復雜且設備昂貴。顯微鏡圖像法的測量結果主要表征顆粒的二維尺寸(長(cháng)度和寬度)，而無(wú)法表征其高度。
1 .2 沉降法
沉降法是基于顆粒在液體中的沉降符合斯托克斯定律這一原則，根據顆粒在液體中的最終沉降速度來(lái)計算顆粒的粒徑.在實(shí)際操作中, 由于測試顆粒的最終沉降速度存在較大困難, 因此, 所有沉降儀都是測量與最終沉降速度相關(guān)的其它物理參數, 如壓力、密度、重量、濃度或光透過(guò)率等。 進(jìn)而求得顆粒的粒徑分布.沉降法又分為重力沉降和離心沉降兩種, 重力沉降的測試范圍通常為0 .5 ～ 100 μm , 離心沉降可測量的粒徑范圍為0 .05 ～ 5 μm .目前, 沉降式顆粒儀一般都采用重力沉降和離心沉降相結合的方式。
1 .3 電阻法
電阻法又稱(chēng)庫爾特計數法, 適合對粒度分布比較窄的顆粒進(jìn)行測量.它的工作原理相對比較簡(jiǎn)單: 懸浮在電解液中的顆粒在負壓作用下通過(guò)一個(gè)由紅寶石制成的小孔, 兩個(gè)鉑電極組成的電阻式傳感器分別插浸在小孔的兩側, 顆粒通過(guò)小孔時(shí)電極間電阻增大, 產(chǎn)生一個(gè)電壓脈沖.脈沖的幅值對應于顆粒的體積和相應的粒徑, 脈沖的個(gè)數對應于顆粒的個(gè)數.對所有各個(gè)測量到的脈沖計數并確定其幅值, 即可得出顆粒的大小, 統計出顆粒的分布.電阻法是今為止分辨率最高的粒度分析技術(shù)。
1.4 激光衍射法
激光衍射法(又稱(chēng)小角前向散射法)是散射式激光測粒技術(shù)中發(fā)展最為成熟、應用最為普遍的一種方法, 它通過(guò)測量顆粒在前向某一小角度范圍內的散射光能分布, 利用經(jīng)典的Mie 散射理論和對大顆粒適用的夫瑯和費理論, 求得顆粒粒徑的大小和分布.對于粒徑較大的顆粒, 由于在前向小角度范圍內的散射以衍射為主, 因此, 小角前向散射法又稱(chēng)為衍射法.激光衍射法的適用性廣, 粒徑測量范圍寬, 測量準確, 精度高, 重復性好, 測量速度快, 需要提供的物理參數少, 可在線(xiàn)測量等, 故而得到廣泛應用。
1.5 比表面積法
顆粒群的粒徑可用比表面積來(lái)間接表示.比表面積是單位質(zhì)量顆粒的表面積之和.通過(guò)測量顆粒的比表面積Sw , 再將其換算成具有相同比表面積值的均勻球形顆粒的直徑, 這種測量粒徑的方法稱(chēng)為比表面積法, 所得粒徑稱(chēng)為比表面積徑。
2 實(shí)驗結果與分析
不同的粒度測試儀因工作原理的不同, 所測得的等效粒徑也不同.激光法測量的是等效體積徑, 電阻法測量的是等效電阻徑, 沉降法測量的是等效沉速徑(又叫Stokes 徑), 比表面積法測量的是等效表面積球體的直徑, 本研究中顯微鏡法測量的是Feret徑(沿某一確定方向的二平行線(xiàn)之間的距離).為了合理地使用和比較不同測試方法的粒度數據, 需要了解這些方法之間的差異和原因, 并對測量結果進(jìn)行對比分析。
為了研究這幾種方法測試結果的重復性、準確性以及相互之間的差異, 本文采用選擇取一個(gè)子樣品放入儀器中重復測試三次的分析方法對測量結果進(jìn)行比較, 分別將上述幾種粉體試樣在不同的儀器上進(jìn)行重復測試(顯微鏡法因耗時(shí)較長(cháng)只測試一次).上述六種樣品分別經(jīng)五種不同的粒度測試技術(shù)測得的特征粒徑值———中位徑D50 列于表1 。
 六種粉體的SEM 照片如圖1 所示.由圖1 可以看到, 聚苯乙烯球的球形度及單分散性最好, 球體的直徑比較均勻(圖1(a)).SB040102 玻璃微珠的粒徑分布范圍較窄, 接近單分散, 絕大部分顆粒為球形, 混有極少量的非球形顆粒(圖1(b)).SB2004 玻璃微珠的球形度雖較好, 但微珠的粒徑分布范圍較寬, 不具備單分散性(圖1(c)).鎢粉為粒徑范圍較窄的塊狀顆粒(圖1(d)),Al2O3 粉和SiO2 粉均為不規則形狀的顆粒.Al2O3 粉顆粒為不規則形狀且多孔隙的顆粒, 類(lèi)似蜂窩狀(圖1(e));SiO2 粉中存在較多10 μm 以下的小顆粒及60 μm 的大顆粒(圖1）。
由從表1 的測試結果可見(jiàn):
(1)將激光粒度儀(激光衍射法)、庫爾特計數儀(電阻法)和離心粒度分析儀(沉降法)這三種使用最普遍的粒度分析儀的測試結果相比較, 對其中位徑D50值的標準方差進(jìn)行統計分析可得:激光粒度儀的標準方差平均為0.008 ;庫爾特計數儀的標準方差平均為0 .097 ;離心粒度分析儀的標準方差平均為0 .219 .由此可見(jiàn), 激光粒度儀的測得的D50 值的標準方差最小, 測量結果重復性最好, 精度高, 離心粒度儀的測量重復性及測量精度相對最差.
(2)對聚苯乙烯球分別用電阻法、激光衍射法、沉降法和顯微鏡法測量的D50 值結果具有可比性,說(shuō)明單分散的球形粉體用這四種方法測量的中位徑均具有可對比性;似單分散性的球形粉體SB040102玻璃微珠粉和不具備單分散性的球形粉體SB2004玻璃微珠粉用電阻法、激光法和顯微鏡法測量的中位徑結果具有可比性, 但用沉降法測量的結果偏大,相對誤差大于5 %, 結果不具有可比性.這說(shuō)明, 雖然同是球形粉體, 但如果粒徑范圍偏大, 就只有部分
測量方法所測的中位徑具有可比性.非球形粉體用不同原理儀器測得的中位徑值一般不具有可比性.
(3)比表面積法測得的粒徑比其余四種測量方法測得的粒徑值都要小很多, 如對多孔隙的A l2 O3顆粒比表面積徑的測量值要比其他方法的測量結果偏小達一個(gè)數量級以上.造成比表面積徑偏小的主要原因是, 由于粉體顆?；蚨嗷蛏贂?huì )存在細微裂縫或與外界連通的孔隙, 有些顆粒豐富的內表面積甚至遠遠大于外表面積;此外, 顆粒表面凹凸不平也使得測量的比表面積偏大, 代入公式d =6/ρSw 計算時(shí)使粒徑結果偏小.另外, 顆粒的非球形也是影響測量結果的因素之一.由此可見(jiàn), 用比表面積法測量的粒徑與其他方法測量的粒徑無(wú)可比性.
(4)對于三種球形粉體而言, 顯微鏡法的測量結果與其他方法的測量結果相比, 聚苯乙烯球用四種常用方法測得的D50 值結果相符合, 相對偏差小于5 %, 結果具有可比性;兩玻璃微珠球形粉的中位徑D50值用電阻法、激光衍射法和顯微鏡法測得的中位徑D50值結果相符合, 結果具有可比性, 但沉降法與這幾種測量結果的偏差大于5 %, 不可比;對于顆粒形狀不規則的SiO2 粉和Al2O3 粉, 顯微鏡法測量的D50值與其他方法測量的D50值不具有可比性, 尤其是SiO2 粉的D50 值偏差較大.產(chǎn)生偏差的主要原因是由于SiO2 粉含有相當一部分粒徑小于10 μm 顆粒(累積含量近30 %), 而最大顆粒的粒徑大于60μm .在同一個(gè)顯微鏡圖像中, 要同時(shí)測量大、小顆粒的粒徑, 相對于小顆粒來(lái)說(shuō), 放大倍數偏小, 分辨率不夠高, 致使測量結果帶來(lái)誤差.因此, 顯微鏡法不適合測量粒徑范圍較大且形狀不規則的粉體粒徑.
4 結 論
(1)激光衍射法測試的結果重復性好, 精度高,適用性強.
(2)單分散性的球形顆粒用激光衍射法、電阻法、沉降法、顯微鏡法測得的中位徑D50 值都具有可比性.
(3)粒徑范圍較寬的球形粉體, 只有部分測試方法測得的中位徑D50 值有可比性;非球形的粉末, 用不同原理儀器測得的中位徑值D50值一般不具有可比性.
(4)比表面積法測試的粒徑值比其它測試技術(shù)測得的粒徑值都小, 與其它測試方法的測量值無(wú)可比性.
(5)顯微鏡法不適合測量粒徑范圍較大且形狀不規則的粉體粒徑.
作者：譚立新1 , 蔡一湘1 , 余志明2 , 梁泰然1(1.廣東省工業(yè)技術(shù)研究院(廣州有色金屬研究院), 廣東廣州 510650 ;2.中南大學(xué)材料科學(xué)與工程系, 湖南長(cháng)沙 410083)
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