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      性能測試
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      馬爾文在Pittcon 2014上推出新型納米顆粒跟蹤分析系統
      來(lái)源：中國粉體技術(shù)網(wǎng)    更新時(shí)間：2014-03-06 08:49:27    瀏覽次數：
       
           （中國粉體技術(shù)網(wǎng)/班建偉）在Pittcon 2014展會(huì )上，馬爾文儀器展出一款全新產(chǎn)品，是工業(yè)界和學(xué)術(shù)界的綜合分析解決方案——Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統。Pittcon 2014是馬爾文儀器自2013年9月收購納米科技公司Nano Sight后第一次在美國參展，為納米顆粒跟蹤分析系統增設納米顆粒大小和計數功能。
        
                                                 Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統將在Pittcon 2014展會(huì )上展出
      　　 NTA系統將與納米激光粒度儀和全新Viscotek SEC-MALS 20多角度光散射GPC/SEC檢測器檢測器共同展出。另外在馬爾文展位上，Mastersizer 3000超高速智能粒度分析儀將采用全新軟件。它能模仿其他激光衍射系統操作方式，而使得測量數據的任何可見(jiàn)差異得到合理解釋?zhuān)虼藘x器的升級將變得不再復雜?，F場(chǎng)分析能證實(shí)測量中的穩定性，并配有自定義報告能輕松滿(mǎn)足行業(yè)和公司標準。Mastersizer軟件現能提供8種語(yǔ)言，滿(mǎn)足世界各地的用戶(hù)完全無(wú)礙使用。
       
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      馬爾文在Pittcon 2014上推出新型納米顆粒跟蹤分析系統2014-03-06
       
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