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      專(zhuān)利信息
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      一種碳化硅微粉粒度檢測方法
      來(lái)源：中國粉體技術(shù)網(wǎng)    更新時(shí)間：2013-12-10 09:27:17    瀏覽次數：
      專(zhuān)利名稱(chēng)： 一種碳化硅微粉粒度檢測方法
      專(zhuān)利持有人：平頂山易成新材料股份有限公司
      所屬行業(yè)：
      內容摘要：本發(fā)明提供的碳化硅微粉粒度的檢測方法融合了電阻法與激光法兩種方法，配合針對不同型號的樣品選擇性的采用相對應的分散方法，從而使碳化硅顆粒分散均勻、良好，進(jìn)而使粒度檢測數據更為科學(xué)、真實(shí)，精確度高。
      信息描述
      發(fā)明人：曲麗偉，梁貴振，夏軍，楊正宏，葉小迷，張向峰，蘇燕，張強  
      申請人：平頂山易成新材料股份有限公司
      申請號：201210515224.7
       　　一種碳化硅微粉粒度檢測方法，包括如下步驟：一、用光學(xué)顯微鏡觀(guān)察樣品，判斷樣品的型號，推斷樣品粒度；二、當碳化硅微粉樣品的平均粒度D50小于5.5um時(shí)，采用超聲細胞粉碎機進(jìn)行分散，分散完畢，采用Malvern激光粒度儀進(jìn)行粒度檢測；三、當碳化硅微粉樣品的平均粒度D50大于5.5um時(shí)，采用超聲清洗器進(jìn)行分散，分散完畢，采用COULTER顆粒計數儀進(jìn)行粒度檢測。本發(fā)明提供的碳化硅微粉粒度的檢測方法融合了電阻法與激光法兩種方法，配合針對不同型號的樣品選擇性的采用相對應的分散方法，從而使碳化硅顆粒分散均勻、良好，進(jìn)而使粒度檢測數據更為科學(xué)、真實(shí)，精確度高。

      http://roanjohns.com/uploadfile/2013/1210/20131210092940261.pdf
       
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