不同的應用領(lǐng)域，對超細粉體特性的要求各不相同，在所有反映超細粉體特性的指標中，粒度分布是所有應用領(lǐng)域中最受關(guān)注的一項指標，因此，客觀(guān)真實(shí)地反映超細粉體的粒度分布是至關(guān)重要的，主要表現在以下兩個(gè)方面：
在超細粉體加工生產(chǎn)過(guò)程中，粉體粒度檢測是控制產(chǎn)品生產(chǎn)指標和調整優(yōu)化生產(chǎn)工藝的主要依據。
對于超細粉體產(chǎn)品，其顆粒尺寸大小和粒度分布直接影響其特性、價(jià)格和用途，對于納米材料，其顆粒大小和形狀對材料的性能起著(zhù)決定性的作用，因此粉體粒度檢測必不可少。
目前，用于超細粉體粒度表征方法主要有以下幾種：
1、激光衍射散射法
激光衍射散射法中應用最多的是激光衍射粒度儀，該儀器在假定粉體顆粒為球形、單分散條件基礎上，利用光的散射現象測量顆粒大小，顆粒尺寸越大，散射角越??；顆粒尺寸越小，散射角越大。
優(yōu)點(diǎn)是：測量范圍廣、結果精確度高、測量時(shí)間短、操作方便、能得到樣品體積的分布。缺點(diǎn)是：對于檢測器的要求高、不同儀器檢測結果對比性差、分辨率較低、不適于測量粒度分布范圍很窄的樣品。采用該法測量粒徑時(shí)，前提條件是首先要獲得分散度好的懸浮液，否則給出錯誤的結果。
2、電鏡觀(guān)察法
電鏡主要分為掃描電鏡、透射電鏡、掃描隧道電鏡等。通過(guò)電鏡可直接觀(guān)察粒子平均直徑或粒徑的分布，是一種顆粒度觀(guān)察測定的絕對方法，因而具有可靠性和直觀(guān)性。
特點(diǎn)：檢測過(guò)程中要求顆粒處于良好的分散狀態(tài)；要獲得準確的結果，需要大量的電鏡圖片進(jìn)行統計，否則有可能導致觀(guān)察到的粉體的粒子分布范圍并不代表整體粉體的粒徑范圍。
3、沉降法
沉降法是通過(guò)顆粒在液體中沉降速度來(lái)測量粒度分布的方法，主要有重力沉降式和離心沉降式兩種沉降粒度分析方式，測量范圍一般為44μm以上。
特點(diǎn)：由于實(shí)際顆粒的形狀絕大多數都是非球形的，不可能用一個(gè)數值來(lái)表示它的大小，因此和其他類(lèi)型的粒度儀器一樣，沉降式粒度儀所測的粒徑也是一種等效粒徑；用于沉降法的儀器造價(jià)雖然較低，但與激光粒度儀相比，其測量時(shí)間長(cháng)、速度慢，不利于重復分析，測量結果往往手操作手法及環(huán)境溫度影響，對于2μm以下的顆粒會(huì )因布朗運動(dòng)導致測量結果偏小。
4、電阻法
又叫庫爾特法，適合于測量粒度均勻（即粒度分布范圍窄）的粉體樣品，也適用于測量水中稀少的固體顆粒的大小和個(gè)數，所測的粒徑為等效電阻徑，測試所用的介質(zhì)通常是導電性能較好的生理鹽水。
特點(diǎn)：與其他粒度測定方法相比，庫爾特法分辨率最高，而且測量時(shí)間短、重復性和代表性較好、操作簡(jiǎn)便誤差較??；缺點(diǎn)是：動(dòng)態(tài)范圍較小、易被顆粒堵塞使測量中止、測量下限不夠小，一般測量下限為1μm。
5、比表面積法
在材料細分散的制備中，由于顆粒尺寸越來(lái)越小，形成了越來(lái)越多顆粒表面，引起表面能的巨大變化，用比表面積的概念把顆粒表面積與顆粒尺寸聯(lián)系起來(lái)，即：體積比表面積=顆?？偙砻娣e/顆?？傮w積；質(zhì)量比表面積=顆?？偙砻娣e/顆?？傎|(zhì)量。
在實(shí)際應用中，粉體的比表面積可以通過(guò)浸濕熱法、吸附法以及透過(guò)法幾種方法來(lái)測量，采取哪種方法要根據測量要求和物料、設備等條件決定。
該方法需要高真空和預先嚴格脫氣處理，控制測定精度的因素主要為顆粒的形狀及缺陷，如氣孔、裂縫等。這些因素造成測量結果的負偏差。
6、X射線(xiàn)衍射線(xiàn)寬法
X射線(xiàn)衍射線(xiàn)寬法是測定顆粒晶粒度的最好方法。當顆粒為單晶時(shí)，該法測得的是顆粒度。顆粒為多晶時(shí)，該法測得的是組成單個(gè)顆粒的單個(gè)晶粒的平均晶粒度。
這種測量方法適用于晶態(tài)的納米粒子晶粒度的測量。實(shí)驗表明晶粒度小于等于50nm時(shí)，測量值與實(shí)際值相近，反之，測量值往往小于實(shí)際值。
7、團聚態(tài)的表征
團聚體的性質(zhì)可分為團聚體的尺寸、形狀、分布、含量；團聚體的氣孔率、氣孔尺寸及分布；團聚體的密度、內部顯微結構、強度；團聚體內一次顆粒之間的鍵合性質(zhì)等。目前常用的團聚體表征方法主要有顯微結構觀(guān)察法、素胚密度-壓力法以及壓汞法等
除以上介紹的粒徑測量方法外，還有一些測量方法，例如，X射線(xiàn)小角散射法、拉曼散射法、穆斯保爾譜、原子力顯微技術(shù)（AFM）和掃描隧道電子顯微鏡等均能測得粒徑。
最后強調一點(diǎn)，超細粉體粒度真實(shí)測定的前提是測量前將粉體充分分散，使粉體顆粒不存在團聚現象，測量得到的中位值D50趨于最小且重復測試結果不變。
時(shí)間：2019年3-5日，地點(diǎn)：江蘇 昆山
培訓內容：
（一）粉體的超細粉碎技術(shù)與設備
1. 超細粉碎技術(shù)原理
2. 超細粉碎技術(shù)裝備發(fā)展現狀與發(fā)展趨勢
3. 超細粉碎設備種類(lèi)及其應用
4. 超細粉碎設備選型方法
5. 超細粉碎工藝設計方法
6. 超細粉碎常見(jiàn)問(wèn)題剖析與解決方案
7. 交流互動(dòng)
?。ǘ┓垠w的精細分級技術(shù)與設備
1. 精細分級技術(shù)原理
2. 精細分級技術(shù)裝備發(fā)展現狀與發(fā)展趨勢
3. 精細分級設備種類(lèi)及其應用
4. 精細分級設備選型方法
5. 精細分級工藝設計方法
6. 精細分級常見(jiàn)問(wèn)題剖析與解決方案
7. 交流互動(dòng)
?。ㄈ┓垠w超細粉碎和分級過(guò)程中的性能表征與應用
1. 粉體各項性能指標的表征
2. 超細粉碎和分級對粉體結構及性能的影響
3. 超細粉碎和分級過(guò)程中粉體的理化特性控制及應用
4. 交流互動(dòng)
?。ㄋ模┕δ芊垠w的超細粉碎和分級
1. 熱敏性物料的超細粉碎和分級設備與應用
2. 塑性物料的超細粉碎和分級設備與應用
3. 高純粉體材料的超細粉碎和分級設備與應用
4. 針狀粉體的超細粉碎和分級設備與應用
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