一、礦物嵌布粒度的測定
1、礦物嵌布粒度的概念
礦物嵌布粒度可分為結晶粒度與工藝粒度：
結晶粒度是指單個(gè)結晶顆粒的大小，主要用于成因研究；
工藝粒度是指某礦物的集合體顆粒和單個(gè)顆粒的大??；
礦物的嵌布粒度特性就是指礦物工藝粒度的大小和分布特征。
2、礦物工藝粒度的表征
在礦石標本中或礦石光片中對粒狀或非粒狀（不規則狀）顆粒的工藝粒度的表征通常有
兩種方法，即定向最大截距法和定向隨機截距法。
?。?/strong>1）定向最大截距
所謂“定向最大截距”，是指沿一定方向所測得的顆粒最大直徑。該方法適用于粒狀礦物顆?；蚣象w粒徑的測定。
圖1 定向最大截距
?。?/strong>2）定向隨機截距
對于非粒狀礦物顆?；蚣象w，若為脈寬變化較為均勻的脈體，測其寬度作為粒徑。若為片狀礦物（如石墨、白云母、滑石等），測其解理面上的長(cháng)軸作為劃分粒級的粒徑。對于特長(cháng)纖維狀礦物（如石棉），一般測其纖維長(cháng)度作為劃分粒級的粒徑。若礦物顆粒為不規則體，通常用“定向隨機截距”來(lái)表示其粒徑，根據等間距的定向測線(xiàn)所截的長(cháng)度即定向隨機截距d1、d2、d3、d4、d5、d6等來(lái)表示其粒徑。
圖2 定向隨機截距
由于磨光切面大都未通過(guò)顆粒中心，所以所測得的粒徑數值總是要比實(shí)際的偏小一些。在進(jìn)行粒度測量時(shí)，應保證足夠的測量顆粒數目。如果測量的顆粒數目很少，用“定向最大截距”或“定向隨機截距”來(lái)度量礦物的工藝粒度是不能反映其實(shí)際粒徑的。
3、顯微鏡下顆拉長(cháng)度的測量
通常采用目鏡微尺進(jìn)行顯微鏡下顆粒長(cháng)度的測量。在接目鏡的前焦平面上裝上一塊在1rnm長(cháng)度上刻有100分格標尺的小圓玻璃片，即為目鏡微尺。在一定的目鏡、物鏡組合條件下，于物臺上置一物臺微尺（通常在2mm的長(cháng)度上刻有200個(gè)分格，每分格的長(cháng)度為0.01mm），即可算出目鏡微尺在此目鏡-物鏡組合下的格值。設目鏡微尺與物臺微尺準焦重合后，目鏡微尺的80分格正好等于物臺微尺的56分格，則目鏡微尺的格值為：
目鏡微尺的格值=（物臺微尺格數×0.01mm）/（目鏡微尺格數）=（56×0.01mm）/80=0.007mm
必須注意目鏡微尺的格值是隨目鏡-物鏡組合而改變的。根據實(shí)測礦物粒徑的目鏡微尺格數，需乘以該目鏡-物鏡組合的格值才能計算出實(shí)際長(cháng)度。如格值為0.007mm，目鏡微尺測得9格，則其粒徑長(cháng)度：9×0.007mm=0.063mm。
4、顯微鏡下礦物工藝粒度的測量
在選取用于測量的具有代表性的原礦石樣品時(shí)，如果粒度范圍較窄或待測礦物的含量較多時(shí)，可選測較少量的光片。如果粒度范圍較寬月顆粒大小懸殊，并在礦石中分布又不均勻時(shí)，則需選測較多數量的光片。在制片時(shí)，須垂直層理、片理、片麻理和條帶方向磨制。
為增強樣品的代表性，減少抽樣誤差，減少測量工作量，一般常將具代表性的待測礦石樣品破碎至3mm左右，進(jìn)行縮分，再用膠結劑（蟲(chóng)膠、電木粉、環(huán)氧樹(shù)脂和三乙醇胺、松香和松節油、賽璐路等）進(jìn)行膠固，最后磨制成團塊（砂）光片供工藝粒度測量或礦物百分含量測量用。對于松散礦石或松散的選礦產(chǎn)品，也須用上述方法磨制成團塊（砂）光片，以供測量用。
在粒度測量時(shí)，須人為地劃分出一些粒徑分布的區間——粒級，以便進(jìn)行粒度測量。在顯微鏡下進(jìn)行工藝粒度測量時(shí)，粒級的劃分可按目鏡微尺的格子數來(lái)劃分（如2、4、8、16、32...）。在選擇放大倍數，即目鏡-物鏡組合時(shí)，一般以保證最小粒級顆粒的放大物像的大小不少于目鏡微尺的2個(gè)刻度、最大粒級顆粒的放大物像的大小不超越目鏡微尺的刻度范圍為宜。
顯微鏡下粒度測量的方法主要有：面測法、線(xiàn)測法和點(diǎn)測法。
?。?/strong>1）面測法
面測法也稱(chēng)為橫尺面測法，適用于粒狀顆粒的測量。該方法借助于目鏡微尺、機械臺和分類(lèi)計數器（若無(wú)分類(lèi)計數器用筆記錄也可）三者配合進(jìn)行。將目鏡微尺東西橫放視場(chǎng)中，利用機械臺移動(dòng)尺將光片按一定間距向測線(xiàn)作南北向移動(dòng)，使a、b線(xiàn)范圍內的顆粒均逐漸通過(guò)微尺。
圖3 橫尺面測法示意圖（帶點(diǎn)顆粒為待測顆粒）
當每一個(gè)顆粒通過(guò)微尺時(shí)，根據該顆粒的“定向（東西向）最大截距”刻度數確定屬于哪一粒級，即認為是該粒級的顆粒；并按動(dòng)分類(lèi)計數器記錄該粒級的相應按鈕，以便累加該粒級的一個(gè)顆粒。這樣將依次通過(guò)微尺的顆粒測記下來(lái)后，又測另一毗鄰縱行。為免除多測了橫跨在指定范圍邊界上的顆粒而造成人為的誤差，可規定只測左邊豎a線(xiàn)上和ab線(xiàn)間的顆粒，而對橫跨（交切）右邊線(xiàn)上的顆粒不予測算。
本法及以下各法，對粒徑相差不大的標本，即粒徑分布范圍較窄時(shí)，一般須測500個(gè)顆粒左右；若粒徑相差懸殊，即粒徑分布范圍較寬時(shí)，所測顆粒數還須增加，才能保證必要的精度。也可用逐步試算法來(lái)具體確定所需測定的顆粒數。
?。?/strong>2）線(xiàn)測法
線(xiàn)測法包括橫尺線(xiàn)測法和順尺線(xiàn)測法兩種。
橫尺線(xiàn)測法是測量一定間距（距離以較大一些為好，以免重測粗粒徑的顆粒）測線(xiàn)上所遇及的粒狀顆粒。測法是將目鏡微尺橫放，即與測線(xiàn)垂直，對通過(guò)十字絲中心的顆粒借助于目鏡微尺進(jìn)行垂直測線(xiàn)方向的“定向最大截距”的測量，并利用分類(lèi)計數器分別記錄各級別所測的顆粒數。逐條測線(xiàn)地測完預計測量的測線(xiàn)和顆粒數后，進(jìn)行整理計算。
圖4 橫尺線(xiàn)測法示意圖（帶點(diǎn)顆粒為待測顆粒）
由于本法系沿測線(xiàn)測量，較易漏掉粒徑較小的顆粒。因而，與橫尺面測法相比，用本法測量的結果，粗粒級偏高、細粒級偏低。
順尺線(xiàn)測法適用于非粒狀的不規則顆粒。測法也是測量按一定間距分布的測線(xiàn)上所遇及的顆粒，但由于顆粒的形狀極不規則，不能測其“定向最大截距”，而只能測其與測線(xiàn)平行交切的“定向隨機截距”。
目鏡微尺平行測線(xiàn)方向放置，測量和記錄微尺所切的“定向隨機截距”。以隨機截距為粒徑，將不同的隨機截距分別記錄在不同的粒級中；每一隨機截距算一個(gè)顆粒數。測完預計測量的測線(xiàn)和截距數后，進(jìn)行整理和計一算，算出各粒級的體積或質(zhì)量百分含量。
圖5 順尺線(xiàn)測法示意圖（測微尺平行測線(xiàn)）
?。?/strong>3）點(diǎn)測法
本法主要適用于粒狀顆粒。木法系借助于目鏡微尺（垂直測線(xiàn)方向橫放）、電動(dòng)計點(diǎn)器（電動(dòng)求積臺）配合進(jìn)行的，用以沿測線(xiàn)測量通過(guò)十字絲交點(diǎn)的作等間距分布測點(diǎn)上的各粒級礦物點(diǎn)的數目。
圖6 點(diǎn)測法示意圖（實(shí)心點(diǎn)為計數點(diǎn)）
測量時(shí)視落入十字絲交點(diǎn)的待測有用礦一物屬何粒級（從橫放的目鏡微尺上測量其垂直測線(xiàn)方向的最大截距），便按動(dòng)該粒級的計數按鈕，記下此粒級的一個(gè)點(diǎn)數；若跳動(dòng)一定距離后仍在此較大顆粒中，則再按此粒級的計數按鈕一下，再記下一個(gè)點(diǎn)；如若跳入另一粒級的顆粒中，則按動(dòng)另一粒級的計數按鈕，記下另一粒級的一個(gè)點(diǎn)數；若跳入其他伴生礦物或脈石礦物中時(shí)，則按動(dòng)“空白”按鈕，使之往前跳動(dòng)，但不予記數。直至測完欲測測線(xiàn)、點(diǎn)數或光片為止。
若系非粒狀顆粒，可按十字絲交點(diǎn)處的垂直測線(xiàn)方向的“橫向隨機截距”作為其粒徑來(lái)加以計算。
二、礦物單體解離度測定
1、單體解離度的概念
要想通過(guò)選礦把有用礦物富集起來(lái)，首先必須使有用礦物從礦石中解離。因此，礦物解離性的好壞在很大程度上影響了礦石的可選性。
礦石經(jīng)過(guò)破碎后，有些礦物呈單礦物顆粒從礦石的其他組成礦物中解離出來(lái)，這種單礦物顆粒稱(chēng)為“某礦物單體”。由兩種或兩種以上的礦物連生在一起的顆粒叫“某一某礦物連生體”。
圖7 礦物單體、脈石單體和礦物-脈石連生體
礦物解離性的好壞，主要表現在礦石經(jīng)過(guò)粉碎后所形成單體的相對多少上，通常用“單體解離度”表示某礦物的解離程度。
礦物單體解離度，是指某礦物單體的含量與該礦物在樣品中的總量（單體含量與連生體含量之和）之比。即：
礦物單體解離度=（礦物單體含量/礦物總含量）×100%
顯然，礦物單體解離度越高，其解離性越好；反之，礦物單體解離度越低，其解離性就越差。在碎礦、磨礦過(guò)程中，只有將有用礦物充分解離出來(lái)，才能提高有用礦物的回收率和精礦的質(zhì)量。因此，在流程產(chǎn)物的分析中，通常都要了解主要產(chǎn)物中礦物的單體解離度，以便檢查碎礦、磨礦和選別作用的效果，找出進(jìn)一步提高選礦指標的措施。
2、礦物單體解離度的測定
礦物單體解離度的測定通常是在光學(xué)顯微鏡下進(jìn)行的，而且，為了便于顯微鏡下觀(guān)察和測量，通常需要對樣品進(jìn)行分級，并分別制備砂光片觀(guān)測。
首先，將樣品進(jìn)行篩析或水析，分成若干粒級，并將各粒級樣品進(jìn)行烘干、稱(chēng)重，接著(zhù)進(jìn)行單元素的化學(xué)分析。然后，將不同粒級樣品磨制成砂光片或砂薄片，在顯微鏡下進(jìn)行單體、連生體的測量，測定各粒級的單體解離度。
單體解離度的測定可采用前述的橫尺線(xiàn)測法或橫尺面測法測量出單體與連生體數，然后按線(xiàn)測法或面測法計算樣品中該礦物單體和連生體中的體積含量，進(jìn)而根據單體體積與總體積（單體體積+連生體的體積）之比值，計算樣品中該礦物的單體解離度。
為了定量描述連生體中有用礦物的含量，通常按照有用礦物在整個(gè)連生體顆粒中所占體積比（面積比）進(jìn)一步將連生體劃分為不同類(lèi)型。如3/4、2/4和1/4連生體，分別說(shuō)明在該連生體顆粒中，有用礦物所占的體積比分別為3/4、2/4和1/4。有時(shí)，也可將連生體顆粒進(jìn)一步細分為7/8、6/8（3/4）、5/8、4/8（1/2）、3/8、2/8（1/4）、1/8等類(lèi)型。
各粒級中礦物的單體解離度測定后，即可根據各粒級的產(chǎn)率和解離度測定結果，計算全樣的單體解離度。
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