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      技術(shù)成果
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      石英尾(細)砂制備高純電子級硅微粉研究
      來(lái)源:中國粉體技術(shù)網(wǎng)    更新時(shí)間:2013-09-25 20:35:54    瀏覽次數:
       
      (蚌埠玻璃工業(yè)設計研究院/吳建新,李佩悅,尚德興)1、項目背景
              硅質(zhì)原料(又稱(chēng)硅砂、石英砂)是玻璃、陶瓷、鑄造、水處理、化工、新能源、電工電子、半導體、航空航天等傳統與高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)不可或缺的基礎原材料。為了滿(mǎn)足市場(chǎng)需求,硅質(zhì)原料加工過(guò)程中必須同時(shí)控制最終產(chǎn)品的化學(xué)成份和粒度級配等,通常會(huì )產(chǎn)生20~35%不符合要求的石英尾(細)砂(以下簡(jiǎn)稱(chēng):石英尾砂)。該尾砂通常含有較多的長(cháng)石、(黑)云母、(赤)褐鐵礦、石灰質(zhì)硅酸鹽、粘土、高嶺石等雜質(zhì)礦物,無(wú)法得到有效的利用。據統計,每年在廠(chǎng)內堆存或在尾礦壩中存放的石英尾砂總量約在3000萬(wàn)t以上。這些廢棄物因粒度較細,刮風(fēng)時(shí),隨風(fēng)飄揚而造成局部的“沙塵暴”;雨天時(shí),隨水外流,淤塞河道和田野;在嚴重影響環(huán)境的同時(shí)制約了企業(yè)的可持續發(fā)展。另一方面,陶瓷(色)釉料、化工填(涂)料、電工電子填料等行業(yè)急需的高品質(zhì)粉石英資源日漸枯竭,價(jià)格不斷上漲。因此,研究石英尾砂的深度提純和高效利用技術(shù),對該行業(yè)的發(fā)展具有重要意義。
              本課題為浮法玻璃新技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗室資助項目,為便于說(shuō)明,參照《中華人民共和國電子行業(yè)標準SJ/T 10675—2002電子及電器工業(yè)用二氧化硅微粉》中JG-400電工電子級硅微粉規格的要求,結合市場(chǎng)需求,制定了嚴于行業(yè)標準的內控質(zhì)量指標(詳見(jiàn)表1)。以國內某低鐵石英砂廠(chǎng)產(chǎn)生的石英尾砂為研究對象,重點(diǎn)研究了石英尾砂的深度提純、磨礦控制和離子清洗技術(shù),研究結果達到預期目標,最終獲得的硅微粉指標見(jiàn)表7。
              2、 試樣性質(zhì)
              本試驗的原料是某地低鐵石英砂選礦廠(chǎng)生產(chǎn)中產(chǎn)生的石英尾砂。工藝礦物分析結果表明(偏光顯微鏡見(jiàn)圖1):石英顆粒表面浸染較嚴重,裂隙發(fā)育,內部可見(jiàn)白云母包裹體和其他礦物包裹體,雜質(zhì)主要有方解石、長(cháng)石、(金)白云母、(赤)褐鐵礦、鈣質(zhì)硅酸鹽礦物、粘土、高嶺石等,石英顆粒表面和裂隙中常見(jiàn)黃褐色鐵質(zhì)浸染物。其化學(xué)成份和粒度篩析結果見(jiàn)表1、表2。
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      圖1  偏光顯微鏡
      表1  石英尾砂主要化學(xué)分析結果
      成分 SiO2 Al2O3 Fe2O3 L.O.I
      含量(%) 98.99 0.17 0.11 0.38
        表2   石英尾砂粒度篩析結果
      粒級(mm) 0.2~0.125 0.125~0.1 0.1~0.074 -0.074
      含量(%) 20.60 17.95 5.92 55.53
              3、深度提純工藝研究
              造成石英尾砂無(wú)法有效利用的根本原因在于其中含有大量的雜質(zhì)礦物,無(wú)法滿(mǎn)足目標市場(chǎng)的需求。因此,研究石英尾砂的深度提純技術(shù),實(shí)現石英同雜質(zhì)礦物的有效分離,提高其內在品質(zhì)是解決石英尾砂綜合利用的先決條件。根據工藝礦物學(xué)研究結果,結合JG-400硅微粉內在質(zhì)量指標的要求,深度提純工藝采用“磁選—擦洗—脫泥(藥)—浮選”的原則流程進(jìn)行。
              3.1磁選試驗
              磁選可有效降低細砂中鐵磁性礦物含量,試驗條件及結果見(jiàn)表3。
       表3    不同磁場(chǎng)強度精砂指標
      磁場(chǎng)強度(×80A/m) 3000 5000 10000
      作業(yè)產(chǎn)率/% 96.87 95.64 95.32
      Fe2O3含量/% 0.0075 0.0065 0.0063
              試驗結果表明:隨磁場(chǎng)強度的增加,精砂中Fe2O3含量逐漸降低,但場(chǎng)強大于5000后變化不大,試驗選擇的磁場(chǎng)強度為5000×80A/m。
              3.2 介質(zhì)擦洗試驗
              擦洗作業(yè)可分散泥質(zhì)及其膠結物,有利于礦物的單體解離;并可促使礦物表面薄膜膠結物的分離,使其露出新鮮表面,解除不同礦物之間因長(cháng)期共生而存在的“表面趨同效應”,有利于藥劑的選擇性吸附;試驗采用加介質(zhì)擦洗,通過(guò)介質(zhì)同部分雜質(zhì)礦物的溶解反應,加快了擦洗進(jìn)程,有利于提高石英精砂的質(zhì)量。擦洗試驗條件及結果見(jiàn)表4。
      表4  介質(zhì)擦洗試驗條件及結果
      擦洗介質(zhì)用量(kg/t) 精砂指標(%)
      絕對產(chǎn)率 SiO2 Al2O3 Fe2O3
      23.81 93.14 99.35 0.11 0.0048
      31.74 92.78 99.53 0.085 0.0046
      39.68 92.76 99.54 0.083 0.0045
              試驗結果表明,加介質(zhì)擦洗效果較明顯,精砂質(zhì)量得到了提高,介質(zhì)用量以31.74kg/t較合適,進(jìn)一步增加意義不太大。
              3.3 浮選試驗
              磁選和擦洗后的石英砂Fe2O3指標得到了有效控制,但SiO2、Al2O3指標尚有差距,考慮到粉磨過(guò)程中污染的不可避免,本研究采用反浮選降低雜質(zhì)礦物含量,提高精砂中SiO2含量。浮選試驗結果見(jiàn)表5。
      表5    浮選試驗結果
      捕收劑用量
      (g/t)
      浮選精砂指標(%)
      絕對產(chǎn)率 SiO2 Al2O3 Fe2O3 L.O.I
      —(入浮砂) 92.78 99.53 0.085 0.0046 0.27
      100 90.25 99.62 0.071 0.0044 0.19
      125 88.15 99.71 0.053 0.0042 0.17
      150 86.78 99.81 0.040 0.0035 0.12
      175 85.90 99.84 0.036 0.0036 0.12
              研究結果表明,浮選作業(yè)對提高SiO2含量,降低Al2O3、L.O.I等雜質(zhì)含量十分有效。至此,石英尾砂經(jīng)“磁選—擦洗—脫藥—浮選”工藝處理后,化學(xué)成份滿(mǎn)足制備JG-400級硅微粉的質(zhì)量要求。
              4、硅微粉制備
              試驗采用非礦球磨機制備硅微粉,影響磨礦效果的因素較多,本研究主要探討磨礦時(shí)間、礦介比、介配比對硅微粉粒度及白度指標的影響。
              4.1磨礦時(shí)間影響
              磨礦時(shí)間對磨礦效果的影響試驗結果見(jiàn)圖2。
      \
      圖2   磨礦時(shí)間對磨礦效果的影響
              試驗結果表明,在一定范圍內,隨磨礦時(shí)間的增加,細粒級含量及白度在不斷增加;但當超過(guò)2h后,趨勢明顯變緩。綜合考慮能耗、介質(zhì)消耗、粒度及白度指標,磨礦時(shí)間以2h為宜,此時(shí)磨礦產(chǎn)品的白度為90.5,-41.8um累積含量為96.36%。
              4.2 礦介比影響
              磨礦介質(zhì)是礦石磨礦過(guò)程中的能量載體和施力體,它通過(guò)磨機內磨礦介質(zhì)總能量、單個(gè)磨礦介質(zhì)的能量和磨礦介質(zhì)的比表面積等方面的變化對磨機的生產(chǎn)能力、磨礦效率和粒度產(chǎn)生顯著(zhù)影響[4]。試驗考察了礦介比(指礦石加入量與磨礦介質(zhì)總量的比例)對硅微粉質(zhì)量指標的影響,詳見(jiàn)圖3。
      \
      圖3   不同礦介比對磨礦效果的影響曲線(xiàn)
              試驗結果表明,在一定范圍內,隨著(zhù)礦介比的增大,磨礦產(chǎn)品中-41.8um粒級的含量不斷增大,白度也隨之提高。當礦介比增加到1:5后,增加趨勢變緩,試驗采用該礦介比較理想。
              4.3 介配比影響
              磨礦介質(zhì)本身的配比是影響磨礦效率和產(chǎn)品粒度分布的另一個(gè)重要因素。本次試驗考察了3種磨礦介質(zhì)的不同配比(簡(jiǎn)稱(chēng)介配比)對硅微粉質(zhì)量指標的影響,詳見(jiàn)圖4。
      \
      圖4  介配比與硅微粉指標的關(guān)系曲線(xiàn)
              試驗結果表明,介配比對硅微粉的指標具有明顯影響。當介配比為2:5:3及3:5:2時(shí),硅微粉的粒度和白度指標出現峰值,比較而言,介配比以2:5:3最好。
              5、清洗
              高純硅微粉因質(zhì)純色白,性質(zhì)穩定,耐腐蝕、耐高溫且具有極低的熱膨脹系數,作為一種優(yōu)良的無(wú)機填料廣泛應用于電工電子及IT封裝等行業(yè)。除上述嚴格的成份控制外,對其中游離的Na+、K+、Cl-等離子也必須嚴格控制,若其含量過(guò)高,將會(huì )影響其填充產(chǎn)品的性能。本研究結合工藝步驟,采用去離子水對硅微粉進(jìn)行“過(guò)濾—清洗”處理,試驗流程見(jiàn)圖5,試驗結果見(jiàn)表7。
      \
      圖5 “清洗—過(guò)濾”試驗流程
      表6“清洗—過(guò)濾”試驗條件及結果
      產(chǎn)品名稱(chēng) 化學(xué)指標(%) 粒度指標(%) 白度 水萃取液電導率(μs·cm-1
      SiO2 Al2O3 Fe2O3 -41.8μm含量
      清洗前 99.65 0.085 0.0045 96.36 90.5 42.50
      清洗后 99.70 0.070 0.0036 96.45 91.2 8.25
              由表7可以看出,采用“過(guò)濾—清洗”流程處理后,水萃取液最終的電導率指標為8.25μs·cm-1,與未經(jīng)去離子水清洗的硅微粉產(chǎn)品相比較,降低了34.25μs·cm-1。
              本研究最終硅微粉的各項理化指標檢測結果見(jiàn)表7。
      表7    JG-400電工電子級結晶硅微粉檢測結果對比
      項目 內控指標
      (SJ/T10675-2002指標)
      產(chǎn)品實(shí)測值  
       
      白度 90.0(—) 91.2  
      φ£41.8μm
      (φ£39μm)
      ³95%
      (³75%)
      96.45%  
      化學(xué)成分 SiO2(%) 99.65 99.70  
      Fe2O3(%) 0.010 0.0036  
      Al2O3(%) 0.10 0.070  
      水萃取液 電導率(μs/cm) 10 8.25  
      Na+(ppm) 5 3.9  
      Cl- (ppm) 5 2.6  
      pH 6.5~8 7.5  
              試驗結果表明,最終硅微粉達到項目研究制定的各項考核指標,滿(mǎn)足《電子及電器工業(yè)用二氧化硅微粉》(SJ/T10675-2002) JG-400硅微粉的質(zhì)量要求。
              6、結語(yǔ)
              (1)基于國內某低鐵石英砂廠(chǎng)尾砂的礦物工藝學(xué)特性,采用“磁選—擦洗—脫泥(藥)—浮選”的流程進(jìn)行深度提純,提純后產(chǎn)品SiO2=99. 81%,Al2O3=0.040%,Fe2O3=0.0035%,為用于電工電子級硅微粉提供了可能。
              (2)磨礦時(shí)間、礦介比和介質(zhì)配比是影響磨礦效率的關(guān)鍵因素,對JG-400產(chǎn)品的較佳粉磨條件為:磨礦時(shí)間2h,礦介比為1:5,介配比為2:5:3,硅微粉產(chǎn)品的-41.8μm粒度為96.36%,D50為15.46μm,白度為90.5,滿(mǎn)足電子級硅微粉對粒度和白度指標的要求。
              (3)去離子水清洗是電子級硅微粉游離雜質(zhì)離子達標的重要環(huán)節,應結合粉磨工藝安排清洗方式,降低成本。



      (桂林非金屬礦加工與應用技術(shù)交流會(huì ),發(fā)表于中國粉體技術(shù)雜志)   

       
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