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      性能測試
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      常用的粒度測試方法及其優(yōu)缺點(diǎn)
      來(lái)源：    更新時(shí)間：2013-05-26 23:36:47    瀏覽次數：
       
       
      粒度測試方法 優(yōu)    點(diǎn) 缺    點(diǎn)
      篩分法 簡(jiǎn)單、直觀(guān)、設備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品 不能用于40μm以下的樣品，結果受人為因素和篩孔變形影響較大
      顯微鏡（圖像）法 簡(jiǎn)單、直觀(guān)、可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（最大和最小粒徑的比值小于10：1）的樣品 無(wú)法分析分布范圍寬的樣品，無(wú)法分析小于1微米的樣品
       
      沉降法 操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續運行，價(jià)格低，準確性和重復性較好，測試范圍較大 測試時(shí)間較長(cháng)，操作比較復雜
       
      庫爾特（電阻）法 操作簡(jiǎn)便，可測顆?？倲?，等效概念明確，速度快，準確性好 適合分布范圍較窄的樣品
       
      激光衍射/散射法 操作簡(jiǎn)便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可進(jìn)行在線(xiàn)測量和干法測量 結果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高
       
      電鏡法 適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高 樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴
      超聲波法 可對高濃度漿料直接測量 分辨率較低
      透氣法 儀器價(jià)格低，不用對樣品進(jìn)行分散，可測磁性材料粉體 只能得到平均粒度值，不能測粒度分布
       
       
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