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      技術(shù)進(jìn)展
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      熔融制樣-X射線(xiàn)熒光光譜法測定重晶石中的主要組分
      來(lái)源：光譜實(shí)驗室    更新時(shí)間：2013-06-22 13:10:10    瀏覽次數：
       
              華南理工大學(xué)曾小平等采用熔融片制樣法,X射線(xiàn)熒光光譜儀(XRF)同時(shí)測定防輻射用重晶石中氧化鋇和二氧化硅等主次組分的含量,用基本參數法校正基體效應,并進(jìn)行了方法的精密度和準確度試驗,各組分相對標準偏差RSD(n=10)均小于6.0%。用標準物質(zhì)進(jìn)行驗證,測量值與之基本一致。


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